ํ™ˆ > ํ˜์‹  > Self-Discharge Current Measurement

์ž๊ฐ€ ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜ ์ธก์ • ์ „๋ฅ˜
์ธก์ • ๋ฐฉ๋ฒ•ย 

Self-Discharge๋ž€ ๋ฌด์—‡์ธ๊ฐ€? Current (SDC)

๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜(SDC)๋Š” ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๋‚ด๋ถ€ ํ™”ํ•™ ๋ฐ˜์‘์œผ๋กœ ์ธํ•ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๋ฅผ ์‚ฌ์šฉํ•˜์ง€ ์•Š์„ ๋•Œ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์—์„œ ์ž์—ฐ์ ์œผ๋กœ ์†์‹ค๋˜๋Š” ์†Œ๋Ÿ‰์˜ ์ „๋ฅ˜์ž…๋‹ˆ๋‹ค.

SDC๋ฅผ ์ •ํ™•ํ•˜๊ฒŒ ์ธก์ •ํ•˜๋ฉด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ์ƒํƒœ์™€ ํšจ์œจ์„ฑ์„ ์ดํ•ดํ•˜๋Š” ๋ฐ ๋„์›€์ด ๋˜๋ฏ€๋กœ ์ œ์กฐ์—…์ฒด์™€ ์‚ฌ์šฉ์ž๋Š” ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ˆ˜๋ช…๊ณผ ์„ฑ๋Šฅ์„ ๋ณด๋‹ค ํšจ๊ณผ์ ์œผ๋กœ ์˜ˆ์ธกํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

SDC ์ธก์ • ๋ฐฉ๋ฒ• Measurement Methods

์ „ํ†ต์ ์ธ ๋ฐฉ๋ฒ• ๋ฐฉ๋ฒ•

๊ธฐ์กด SDC ์ธก์ •์€ ์˜ค๋žœ ์‹œ๊ฐ„ ํ›„ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ๊ฐœ๋ฐฉ ํšŒ๋กœ ์ „์•• (OCV) ๊ฐ•ํ•˜๋ฅผ ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋งํ•˜์—ฌ ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ์ถ”์ •ํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

๊ทธ๋Ÿฐ ๋‹ค์Œ OCV ๋ณ€๊ฒฝ์— ํ•ด๋‹นํ•˜๋Š” ์šฉ๋Ÿ‰ ๋ณ€๊ฒฝ์„ ์ฐพ๊ณ  ์šฉ๋Ÿ‰ ๋ณ€๊ฒฝ์œผ๋กœ ์˜ˆ์ƒ SDC๋ฅผ ๊ณ„์‚ฐํ•˜์—ฌ ์‹œ๊ฐ„์„ ๋‚˜๋ˆ•๋‹ˆ๋‹ค.

์ด ๋ฐฉ๋ฒ•์€ ๊ธด ์ธก์ • ์‹œ๊ฐ„๊ณผ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ์•Œ๋ ค์ง„ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๋ฐ์ดํ„ฐ(OCV ๋Œ€ ์šฉ๋Ÿ‰)๊ฐ€ ํ•„์š”ํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-SDC Traditional Method

์ „์•• ์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ• ๋ฐฉ๋ฒ•

๋˜ ๋‹ค๋ฅธ ์ „์••์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ•์€ ์ „์•• ์†Œ์Šค๋ฅผ ์‚ฌ์šฉํ•˜์—ฌ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ OCV์™€ ๋™์ผํ•œ ์ „์••์„ ์ ์šฉํ•œ ๋‹ค์Œ ์ „์•• ์†Œ์Šค์—์„œ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๋กœ ํ๋ฅด๋Š” ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ๊ณ ๋ คํ•˜์—ฌ OCV๋ฅผ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ SDC๋กœ ์œ ์ง€ํ•˜๋Š” ๊ฒƒ์ž…๋‹ˆ๋‹ค.

์ด ๋ฐฉ๋ฒ•์€ SDC๋ฅผ ์ธก์ •ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ๋Š” ์‹œ๊ฐ„์€ ๊ธฐ์กด ๋ฐฉ๋ฒ•๋ณด๋‹ค ์ƒ๋Œ€์ ์œผ๋กœ ์งง์ง€๋งŒ ์ถ”๊ฐ€ ํ•˜๋“œ์›จ์–ด๊ฐ€ ํ•„์š”ํ•˜๋ฉฐ ์˜จ๋„ ๋ณ€ํ™”์—๋„ ๋ฏผ๊ฐํ•˜๋ฉฐ ํž˜์ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์— ์ „์••์„ ๊ฐ€ํ•  ๋•Œ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ์ „๊ธฐํ™”ํ•™์  ๊ท ํ˜•์„ ๋ฐฉํ•ดํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-SDC Potentiostatic Method

์ „๋ฅ˜์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ• (Arbin ๋ฐฉ๋ฒ•) Method (Arbin Method)

Arbin์€ ์…€์— ์†Œ๋Ÿ‰์˜ DC ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ์ธ๊ฐ€ํ•˜๊ณ  ์ „์•• ๋ณ€ํ™”์œจ์„ ๊ธฐ๋กํ•˜์—ฌ ์ฆ‰, ์ „๋ฅ˜์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ•์„ ํ™œ์šฉํ•œ ๋‹ค์Œ ์•„๋ž˜ ๋ฐฉ์ •์‹์„ ํ’€์–ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ SDC ๋ฐ ๋™์  ์ •์ „ ์šฉ๋Ÿ‰์„ ๊ณ„์‚ฐํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-SDC Galvanostatic Method (Arbin Method) i1
ARBIN-SDC Galvanostatic Method (Arbin Method) i2

์ด ๋ฐฉ๋ฒ•์€ ๋‹จ์‹œ๊ฐ„์— SDC๋ฅผ ์ •ํ™•ํ•˜๊ฒŒ ์ธก์ •ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์œผ๋ฉฐ, ์ธ๊ฐ€๋œ ์ž‘์€ ์ „๋ฅ˜๊ฐ€ ์˜จ๋„ ๋ณ€ํ™”์˜ ์˜ํ–ฅ์„ ๋ฐ›์ง€ ์•Š๊ณ  ์ผ์ •ํ•˜๊ธฐ ๋•Œ๋ฌธ์— ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ „๊ธฐํ™”ํ•™์  ๊ท ํ˜•์˜ ๊ต๋ž€์„ ํ”ผํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

์ „๋ฅ˜์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ• (Arbin ๋ฐฉ๋ฒ•) Parallel Method(Arbin Method)

์ „๋ฅ˜ ์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ•์˜ ํ•œ ๋‹จ๊ณ„ ๋” ๋‚˜์•„๊ฐ€ Arbin์€ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๋ฐฐ์น˜๋ฅผ ๋ณ‘๋ ฌ๋กœ ์—ฐ๊ฒฐํ•˜๊ณ  ๊ฐ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ SDC๋ฅผ ์ธก์ •ํ•˜๋Š” PDBT ๋ชจ๋“ˆ์„ ์ œ๊ณตํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

์ด์ „ ์ „๋ฅ˜์ธ๊ฐ€ ๋ฐฉ๋ฒ•์˜ ์ด์  ์™ธ์—๋„ ์ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๋ณ‘๋ ฌ ๋ฐฉ๋ฒ•์„ ์‚ฌ์šฉํ•˜๋ฉด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ์ „๊ธฐํ™”ํ•™์  ๊ท ํ˜•์— ํ›จ์”ฌ ๋” ๋นจ๋ฆฌ ๋„๋‹ฌํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์œผ๋ฉฐ ํ•˜๋‚˜์˜ Arbin ์ฑ„๋„์€ ์—ฌ๋Ÿฌ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ๋™์‹œ์— SDCM์„ ์‹คํ–‰ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ๋„๋ก ์ง€์›ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-SDC Galvanostatic Parallel Method(Arbin Method)

์ด ๋ฐฉ๋ฒ•์€ ๋‹จ์‹œ๊ฐ„์— SDC๋ฅผ ์ •ํ™•ํ•˜๊ฒŒ ์ธก์ •ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์œผ๋ฉฐ, ์ธ๊ฐ€๋œ ์ž‘์€ ์ „๋ฅ˜๊ฐ€ ์˜จ๋„ ๋ณ€ํ™”์˜ ์˜ํ–ฅ์„ ๋ฐ›์ง€ ์•Š๊ณ  ์ผ์ •ํ•˜๊ธฐ ๋•Œ๋ฌธ์— ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ „๊ธฐํ™”ํ•™์  ๊ท ํ˜•์˜ ๊ต๋ž€์„ ํ”ผํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

SDC ์ธก์ • ๋ฐฉ๋ฒ• ๋น„๊ต methods Comparison

ARBIN-SDC-measurement-methods-Comparison

Arbin SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง ๊ธฐ๋Šฅ Monitoring Feature

Arbin SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง ๊ธฐ๋Šฅ์€ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ €์žฅ, ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ œ์กฐ ๋ฐ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ž‘๋™์„ ์œ„ํ•ด ์„ค๊ณ„๋˜์—ˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค. ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ๋‚˜๋น ์ง€๋Š” ๊ณผ์ •์€ ์ผ๋ฐ˜์ ์œผ๋กœ ์˜ค๋žœ ์‹œ๊ฐ„์ด ๊ฑธ๋ฆฝ๋‹ˆ๋‹ค.

๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ˆ˜๋ช…๊ณผ ํ•จ๊ป˜ ์…€์˜ SDC๋ฅผ ๊ณ„์† ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋งํ•˜์—ฌ ๋ฌธ์ œ๊ฐ€ ์žˆ๋Š” ์…€์„ ์กฐ๊ธฐ์— ๊ฐ์ง€ํ•˜๊ณ  ์œ„ํ—˜ํ•œ ์—ด ํญ์ฃผ๊ฐ€ ๋ฐœ์ƒํ•˜๋Š” ๊ฒƒ์„ ๋ฐฉ์ง€ํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง ๋ชจ๋“œ์—์„œ Arbin์€ ์™ธ๋ถ€ ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ์œ ๋„ํ•˜์ง€ ์•Š๊ณ  ๋ณ‘๋ ฌ๋กœ ์—ฐ๊ฒฐ๋œ ๋ชจ๋“  ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๊ฐ„์˜ ๊ฐ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ์ „์••๊ณผ ๋ถˆ๊ท ํ˜• ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ์‹ค์‹œ๊ฐ„์œผ๋กœ ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋งํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

์•„๋ž˜ ์ฐจํŠธ๋Š” ๋ณ‘๋ ฌ๋กœ ์—ฐ๊ฒฐ๋œ 8๊ฐœ์˜ ์ฝ”์ธ ์…€ ๊ทธ๋ฃน์„ ๋ณด์—ฌ์ฃผ๋ฉฐ, ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜๊ฐ€ ๋” ๋†’์€ ๋ฌธ์ œ๊ฐ€ ์žˆ๋Š” ์…€(์ฐจํŠธ์˜ cell_5 ๋ฐ cell_7)์€ ๋‹ค๋ฅธ ์…€๋ณด๋‹ค ์ „์••์„ ๋” ๋นจ๋ฆฌ ๋–จ์–ด๋œจ๋ฆฌ๋ฏ€๋กœ ๋‹ค๋ฅธ ์…€์—์„œ ํ›จ์”ฌ ๋” ๋†’์€ ์ž…๊ตฌ ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ์–ป์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

Arbin SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง ๊ธฐ๋Šฅ์€ ์ด๋Ÿฌํ•œ ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ๊ธฐ๋กํ•˜๊ณ  ๋น„์ •์ƒ์ ์ธ ์ „๋ฅ˜๊ฐ€ ๋‚˜ํƒ€๋‚  ๋•Œ ์‚ฌ์šฉ์ž์—๊ฒŒ ๊ฒฝ๋ณด๋ฅผ ์šธ๋ฆฝ๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-SDC Monitoring Feature i1

์•„๋ž˜ ์ฐจํŠธ๋Š” ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ์ ์ฐจ์ ์œผ๋กœ ๋ถˆ๋Ÿ‰ํ•ด์ง€๋Š” ๋™์•ˆ ์‹œ๊ฐ„์ด ์ง€๋‚จ์— ๋”ฐ๋ผ ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜๊ฐ€ ์ฆ๊ฐ€ํ•˜๋Š” ๊ฒƒ์„ ๋ณด์—ฌ์ฃผ๋ฉฐ, ์ด ๊ณผ์ •์—์„œ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ SDC๋Š” ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ์˜จ๋„ ์ƒ์Šน๋ณด๋‹ค ํ›จ์”ฌ ์ผ์ฐ ๊ธ‰๊ฒฉํžˆ ์ฆ๊ฐ€ํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

๋”ฐ๋ผ์„œ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๊ณ ์žฅ ๊ฐ์ง€ ๋ฐ ์—ด ํญ์ฃผ ๋ฐฉ์ง€๋ฅผ ์œ„ํ•ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์˜จ๋„๋ฅผ ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋งํ•˜๋Š” ๊ฒƒ๋ณด๋‹ค SDC๋ฅผ ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋งํ•˜๋Š” ๊ฒƒ์ด ํ›จ์”ฌ ๋” ํšจ์œจ์ ์ž…๋‹ˆ๋‹ค.

Arbin SDCM

์กฐ๊ธฐ ๊ฒฐํ•จ ๊ฐ์ง€๋ฅผ ์œ„ํ•œ Arbin SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง ์ ์šฉ for Early Fault Detection

์ œ์กฐ์‹œ์˜ ์กฐ๊ธฐ ๊ฒฐํ•จ ๊ฐ์ง€ in Storage and Shipping

Arbin SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง์€ ๋ณ„๋„์˜ ํ™œ์„ฑ ์ „์›์ด ํ•„์š”ํ•˜์ง€ ์•Š๊ธฐ ๋•Œ๋ฌธ์— ์™ธ๋ถ€ ์ „์› ์—†์ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ €์žฅ ๋ฐ ๋ฐฐ์†ก์— ์‚ฌ์šฉํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-Early Fault Detection in Storage and Shipping i1
ARBIN-Early Fault Detection in Storage and Shipping i2

๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๋ณด๊ด€ ๋ฐ ๋ฐฐ์†ก์—์„œ๋Š” ๋ˆ„๊ตฐ๊ฐ€๊ฐ€ ๋ชจ๋“  ์…€์˜ ์ƒํƒœ๋ฅผ ๊ณ„์† ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋งํ•˜๋„๋ก ํ•˜๋Š” ๊ฒƒ์ด ์–ด๋ ต์Šต๋‹ˆ๋‹ค.
ํ•˜๋‚˜์˜ ๋ถˆ๋Ÿ‰ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์—์„œ ์—ด ํญ์ฃผ๊ฐ€ ๋ฐœ์ƒํ•˜๋ฉด ์ƒ์ž ์•ˆ์˜ ๋‹ค๋ฅธ ๋ชจ๋“  ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๋‚˜ ๋ถˆ๋Ÿ‰ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๊ทผ์ฒ˜์— ์—ฐ์‡„ ๋ฐ˜์‘์ด ๋ฐœ์ƒํ•˜์—ฌ ํŒŒ๊ดด์ ์ธ ์—ฌํŒŒ๋ฅผ ์ผ์œผํ‚ต๋‹ˆ๋‹ค.

์ œ์กฐ์‹œ์˜ ์กฐ๊ธฐ ๊ฒฐํ•จ ๊ฐ์ง€ in Operation

EV์— ์‚ฌ์šฉ๋˜๋Š” ๋ชจ๋“ˆ์€ ๋ณ‘๋ ฌ๋กœ ์—ฐ๊ฒฐ๋œ ๋งŽ์€ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๋กœ ๊ตฌ์„ฑ๋ฉ๋‹ˆ๋‹ค. ํ•˜๋‚˜์˜ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ๋ถˆ๋Ÿ‰ํ•œ ๊ฒฝ์šฐ ๋‹ค๋ฅธ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ๋” ๋งŽ์€ ์ „๋ ฅ์„ ์ถœ๋ ฅํ•˜๋ฏ€๋กœ ์ผ๋ฐ˜์ ์œผ๋กœ ์‹œ์Šคํ…œ์—์„œ ๊ฐ์ง€ํ•˜๊ธฐ ์–ด๋ ต์Šต๋‹ˆ๋‹ค. ์—ดํญ์ฃผ๊ฐ€ ๋ฐœ์ƒํ•˜๋ฉด ํŒŒ์†๋œ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๊ทผ์ฒ˜์˜ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๊ฐ€ ์˜ํ–ฅ์„ ๋ฐ›์„ ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

BMS์™€ ํ•จ๊ป˜ SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง ๊ธฐ๋Šฅ์„ ์‚ฌ์šฉํ•˜๋ฉด ๋‹จ์ผ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ๋น„์ •์ƒ์ ์ธ ๋™์ž‘์„ ์‰ฝ๊ฒŒ ๊ฐ์ง€ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์œผ๋ฉฐ ์‚ฌ์šฉ์ž๋Š” ๊ฐ ๋‹จ๊ณ„์—์„œ ๊ฒฝ๊ณ /๊ฒฝ๋ณด/๊ธด๊ธ‰ ์•Œ๋ฆผ์„ ๋ฐ›์„ ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

 

ARBIN-Early Fault Detection in Operation i1
ARBIN-Early Fault Detection in Operation i2

์ œ์กฐ์‹œ์˜ ์กฐ๊ธฐ ๊ฒฐํ•จ ๊ฐ์ง€ in Manufacturing

๋™์ผํ•œ ์ƒ์‚ฐ ๋ฐฐ์น˜์˜ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์˜ ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜๋Š” ์œ ์‚ฌํ•œ ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜๋ฅผ ๊ฐ€์ ธ์•ผ ํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

Arbin SDC ์ธก์ • ๋ฐ ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง์„ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ์— ์ ์šฉํ•˜๋ฉด ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜๊ฐ€ ๋” ํฐ ๋ถˆ๋Ÿ‰ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ๋ฅผ ์‰ฝ๊ฒŒ ์‹๋ณ„ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

Arbin์˜ SDCM์€ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ œ์กฐ์—์„œ ์ž์ฒด ๋ฐฉ์ „ ์ „๋ฅ˜ ์ธก์ • ๋ฐ ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง์„ ์œ„ํ•œ ๋” ๋น ๋ฅด๊ณ  ์ •ํ™•ํ•œ ์†”๋ฃจ์…˜์„ ์ œ๊ณตํ•ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

Arbin SDCM์„ ์‚ฌ์šฉํ•˜๋ฉด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ์ œ์กฐ์—…์ฒด๋Š” ํ›จ์”ฌ ๋” ์งง์€ ์‹œ๊ฐ„์— ๊ณ ํ’ˆ์งˆ์˜ ๋งˆ๋ฌด๋ฆฌ ๋‹จ๊ณ„๋ฅผ ์ˆ˜ํ–‰ํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์œผ๋ฏ€๋กœ ์ดˆ๊ธฐ ํˆฌ์ž ๋น„์šฉ๊ณผ ์šด์˜ ๋น„์šฉ์„ ํฌ๊ฒŒ ์ ˆ๊ฐํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

Arbin SDC ์ธก์ •์˜ ์ •ํ™•๋„๊ฐ€ ๋†’์•„์ง€๋ฉด ์…€ ๋“ฑ๊ธ‰์˜ ์ •ํ™•๋„๊ฐ€ ํฌ๊ฒŒ ํ–ฅ์ƒ๋˜๊ณ  ๋ถ„๋ฅ˜ ์ ˆ์ฐจ์˜ ํ’ˆ์งˆ์ด ํ–ฅ์ƒ๋˜์–ด ๊ฒฐ๊ตญ ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ํŒฉ์˜ ํ’ˆ์งˆ์ด ํ–ฅ์ƒ๋ฉ๋‹ˆ๋‹ค.

ARBIN-Early Fault Detection in Manufacturing

๋” ์ค‘์š”ํ•œ ๊ฒƒ์€ SDC ๋ชจ๋‹ˆํ„ฐ๋ง์ด ์—ด ํญ์ฃผ ๋ฐ ๊ทธ์— ๋”ฐ๋ฅธ ํ™”์žฌ์˜ ์œ„ํ—˜์„ ํฌ๊ฒŒ ์ค„์ผ ์ˆ˜ ์žˆ๋‹ค๋Š” ๊ฒƒ์ž…๋‹ˆ๋‹ค.

์ด๋ฅผ ํ†ตํ•ด ๋ฐฐํ„ฐ๋ฆฌ ๊ณต์žฅ์˜ ์•ˆ์ „ ์กฐ์น˜ ๋น„์šฉ์ด ํฌ๊ฒŒ ์ ˆ๊ฐ๋˜๊ณ  ์•ˆ์ „ ์กฐ์น˜์— ๋Œ€ํ•œ ๊ทœ์ œ๊ฐ€ ์™„ํ™”๋  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

์˜ˆ๋ฅผ ๋“ค์–ด, ๋‹ค์Œ ์ธก์ •์€ ํ•„์š”ํ•˜์ง€ ์•Š๊ฑฐ๋‚˜ ์ ์–ด๋„ ๊ด‘๋ฒ”์œ„ํ•˜๊ฒŒ ํ•„์š”ํ•˜์ง€ ์•Š์„ ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค.

  • ์˜จ๋„ ์ธก์ •, ์—ฐ๊ธฐ/ํ™”์žฌ ๊ฒฝ๋ณด๊ธฐ, ๊ฐ€์Šค/์ „ํ•ด์งˆ ์ฆ๊ธฐ ์„ผ์„œ, ํ™”์žฌ ์ง„์•• ์žฅ๋น„ ๋“ฑ...
๋งจ ์œ„๋กœ ์Šคํฌ๋กค