MTCI 简介
阿尔宾的 MTCI（多温腔接口） 模块可与第三方环境模拟室进行无缝、精密的集成，从而实现 直接控制温度和湿度设定值 在 Arbin 测试计划内进行。这种简化的设置使测试工程师能够在编程和调整电气循环参数的同时对环境条件进行编程和调整，从而无需单独的试验室控制系统。
环境条件（包括温度和湿度）是 同步记录电流、电压和其他电气数据为分析提供统一的数据集。这些参数可以 实时可视化 通过 Arbin 的软件界面，并导出以进行详细的测试后评估，从而确保对测试行为的完全可追溯性和高分辨率洞察力。
MTCI 功能
- 无缝腔体控制
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- 通过兼容的第三方箱体控制器读写温度和湿度设定点。
- 多通道同步：
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- 在使用新的温度设置之前，确保多个测试通道达到同一步骤。
- 温度驱动测试逻辑
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- 只有当腔室达到目标温度时，才推进测试步骤。
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- 在公式中使用室温，同时测量电池温度，只有当两者都达到平衡时才进行计算。
- 自动待机模式：
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- 测试完成后，设置烘箱待机温度。
图 1:辅助 MTCI 模块
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T 组_腔室管理功能
当在单个环境箱内同时测试多个电池单元时，Group T_Chamber Management 功能尤为重要。在这种情况下，所有测试通道必须保持一致的腔室条件，以确保结果的有效性和可重复性。然而，当每个通道独立进行测试时，协调共享的箱体条件就变得更加复杂。
如果没有适当的协调，单个测试通道可能会过早触发试验箱温度或湿度设定点的变化。在其他通道到达相应控制点之前 在各自的测试时间表中。这可能导致 不一致的环境暴露有可能损害 准确性、可重复性和可比性 测试结果。为了应对这一挑战，阿尔宾的系统包括一个 同步机制 确保所有测试通道都能到达指定的 温度控制步骤，然后再调整腔室条件。这种方法可确保 连贯可靠的执行 在共用腔室测试环境中
应用实例
如何使用 Arbin 的 "测试设置 "功能来控制温度室：
创建测试设置以定义温度条件，如下图所示（将试验室温度设置为 25 摄氏度）：
图 2：测试设置窗口
参考测试时间表的测试设置，如下图所示：
图 3：在测试时间表中选择测试设置
在上面的示例中，当选择 "TestStg_A "时，步骤 A 将设置 温度室 至 25°C。有关该功能的更多详情，请参阅 Arbin MITS 手册。
T 组_腔室功能
Arbin 系统支持一组测试通道的同步，多个电池/电池组在同一温度室中一起进行测试。在所有通道都达到相同的测试阶段后，可对箱体温度进行调整。
测试时间表示例
以下是商会团体管理部实施的时间表样本。
图 4：测试时间表示例
测试序列示意图
- 所有 IV 频道将在第 2 步同步，然后一起进入第 3 步。
- 第一个 IV 通道将腔室温度设置为 T1（通道编号最小的 IV 通道，此处为通道 1）。
- 当通道 1 设置温度时，其他通道将等待，直到达到步骤 3 的限制。这些通道的步骤限值必须相同，因为它们使用的是相同的计划表；但发生的时间可以不同。
- 在一个充放电周期后，所有 IV 通道先后到达步骤 6，并在此再次同步，然后继续执行步骤 7，并将腔室温度设置为 T2。
暂停步骤行为和数据记录
使用时 暂停 → T_Chamber 在同步温度控制步骤中，每个 IV 通道进入暂停状态，等待同一腔室组中的所有其他通道到达计划中的相同点。只有在所有通道都到达同步步骤后，测试才会进入下一个步骤，通常涉及到新的腔室温度设定点。
重要提示
在暂停步骤中，阿尔宾系统会执行以下操作 不记录测试数据.这包括电流、电压、温度或任何辅助输入。暂停步骤被视为非活动等待期，不会产生测试测量结果。这种设计可确保数据日志只反映正在执行的测试，避免因空闲时间而出现人为的平线或间隙。
下面是一个示例截图，说明了这种行为，即在暂停期间暂停记录：
图 6：数据日志示例，显示在等待同步的暂停步骤中没有记录测量值
这种行为在使用组 T_Chamber 控制的所有通道中都是一致的，在进行数据分析时，尤其是在计算周期时间或解释基于时间的性能趋势时，必须考虑到这一点。
