智能数据记录 (购置)用户指南

对于需要研究电池性能的电池研究人员和测试人员来说,数据记录是一个重要因素,它可以提供更准确的电流、电压、时间和温度数据,从而提高测试分析的效率。

这些技术策略需要在电池测试行业应用智能数据记录(SDL)功能,阿尔宾测试系统可在实验中使用 SDL 过滤不变的数据测量,降低数据记录率,提高效率,防止数据收集过载导致被测系统(SUT)实验失败。

更改记录数据点的标准

参数
不同范围
比较
目标范围
电压
∆V=Vpresent - Vprevious
∆V=Vpresent - Vprevious
XXmV
电流范围
∆I = Ipresent - Iprevious
>,>=, <, <=, &, ||
YYmA
时间间隔
∆I = Ipresent - Iprevious
>=, >, <, =
ZZms
表 1

例如,如果且仅当电压变化等于或大于 1mV,电流变化大于 2mA,或记录一个数据点的时间间隔超过 10ms 时,测试仪才希望使用 SDL 记录数据。

用逻辑表达式可以表示如下:如果 ∆V >= 1mV,且 ∆I >2mA 或 ∆t >=10ms,则记录数据点。 后面的章节将指导您在 Arbin 计划文件中实现这一逻辑。

图 1. 常规日志记录(左)与 SDL(右) 

禁用 SDL

禁用 ARBIN-ACL-SDL

SDL 启用

ARBIN-ACL-SDL-Enable

人们认为快速记录是在电池测试中获取电压或电流波动的一种方法,然而,电池测试中的高记录率可能无法提供更多信息,因为变化状态非常缓慢。

快速记录可能会对数据库服务器、内存、内存资源和网络带宽造成更大压力,从而可能导致被测电脑丢失数据或性能低下。

Arbin Mits 8.x 使用 SQL 数据库服务器,最大记录速度为 20 点/毫秒(每秒 20,000 个数据点)。 如果我们在测试中记录的数据超过 20 点/毫秒,数据就会在 RAM 中缓冲,从而导致 PC 无法处理记录的数据。

通道数
记录率
PC 插入率
无 SDL
SDL
突发模式
2 CH
60µS
33 pts/ms = 33k /sec
没有
4 CH
60µS
66 pts/ms = 66k /sec
没有
6 CH
60µS
100 pts/ms = 100k/sec
没有
8 CH
1ms
8 分/毫秒 = 8 000 分/秒
没有
16 CH
1ms
16pts /ms = 16,000 次/秒
没有
32 CH
1ms
32 pts /ms = 32,000/sec
没有
没有
64 CH
1ms
64 pts /ms = 64,000/sec
没有
没有
96 CH
1ms
96 pts/ms = 96,000/sec
没有
没有
128 CH
1ms
128 pts/ms = 128,000/sec
没有
没有
表 2:Mits 8.x PC 比较 No-SDL/SDL。

ΔV、ΔI 和 Δt 值范围的粒度必须在 ADC 规格或 Arbin Precision System 的精度和准确度范围内(以 PPM 为单位)。

例如,系统精度为 100 PPM (100/1M),则 ∆V 和 ∆I 的范围应为 0.1mV 或 0.1mA,如果将 ∆V 和 ∆I 设置为 0.01mA 或 0.01mV,则数据采集将失去价值。

请注意精确计算记录数据点的变化范围,以便从实验中获得良好的数据。

阿尔宾智能数据 测井解决方案

为了实现智能数据记录,阿尔宾开发了 5 种灵活的解决方案,可根据客户的需求加以应用。 我们将逐步介绍如何配置、设置和运行这些方法。

方法 1
方法 1.用 ∆V 或 ∆I 代替 ∆T 作为记录极限。 
与使用时间(ΔT)作为日志限制的常规数据记录相比 相比,智能数据记录使用了更多变量作为记录限值,如电压、电流、 ∆V(电压变化)和 ∆I (电压变化)。 电压、电流、 ∆V(电压变化)和 ∆I(电流变化)。 电流变化)。
例如,电压每变化 2mV 就可以记录一次数据。 使用 SDL 时,ADC 仍会连续读取数据,但 系统只会根据用户定义的限制记录数据。 
让我们来看一个在电池测试中使用 SDL 的示例 - 以恒定电流对电池充电。 以恒定电流为电池充电。对电池施加恒定电流时 时,我们更关心电压的变化。 变化。
因此,使用 ∆V 作为对数极限是一个创新的想法。电池的 电池的电压不会是一条线性曲线--电压的变化在开始时会较快,在结束时会较慢。 电压的变化在开始时会较快,而在结束时会较慢。
通过将某个 ∆V 设置为极限值,我们希望在开始时记录更多的数据点,而在接近结束时记录较少的数据点。 在开始时记录更多的数据点,而在接近结束时记录更少的数据点。
与使用时间限制的常规日志限制方法相比,SDL 的数据点较少,但仍能显示电池的 性能。 
图 2.电池充电测试期间电压/电流与时间的关系 
我们可以看到另一个更复杂的 CCCV 测试示例(恒定电流到恒定电压 恒流恒压)。该测试是使用恒定电流将电池充电至目标电压水平 目标电压水平,然后将电池保持在恒定电压水平。 电池保持在恒定电压水平。
在 CC(恒定电流)阶段,电流是恒定的,主要的变化是在电压上。 主要变化是电压。在 CV(恒压 电压)阶段,电压将保持恒定,而主要变化将取决于电流。 将取决于电流。
在这种情况下,电压和电流都不会被视为合适的对数限值,因为它们都是测试的一部分。 因为它们是测试的一部分。
改变能力将是一个可行的选择。阿尔宾提供了 为日志限制提供了多种变量类型供您选择。 不同的测试应有不同的日志限制设置。  
定期数据记录 
使用 1A 电流将电池充电至 3.8V,并保持每 2 秒钟记录一次数据。 每 2 秒钟记录一次数据。 
图 3.定期数据记录的测试时间表
图 4.常规数据记录的测试结果
更改记录数据点的标准
方法1.使用 Mits Pro 8 将 SDL 应用于 Arbin Cyclers
智能数据记录
使用 1A 电流将电池充电至 3.8V,当 ∆V > 5mV 或每 5 分钟记录一次数据。
图 5.智能数据记录测试时间表(Mits Pro8)
方法 1.使用 MITS 将 SDL 应用于 Arbin 循环器
智能数据记录
使用 1A 电流将电池充电至 3.8V,当 ∆V > 5mV 或每 5 分钟记录一次数据。
图 6.智能数据记录(MITS)测试时间表
图 7.智能数据记录测试结果
方法 2
方法 3
方法 4
方法 5

总结

在对细胞进行多通道测试时,将 SDL 与 Arbin cycler 结合使用可提供更准确、更高效的数据记录方式。

这种整合是对卓越的科学研究和技术进步的承诺,为那些寻求稳健高效的数据采集方法的人提供了最先进的解决方案。

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